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Coautori
- Filiberto BilottiROMA TRE UniversityEmail verificata su uniroma3.it
- Mirko Barbuto"Niccolò Cusano" UniversityEmail verificata su unicusano.it
- Alessio MontiRoma Tre UniversityEmail verificata su uniroma3.it
- Andrea AluCUNY Advanced Science Research CenterEmail verificata su gc.cuny.edu
- Stefano VellucciNiccolò Cusano UniversityEmail verificata su unicusano.it
- Dimitrios SounasAssistant Professor, Wayne State UniversityEmail verificata su wayne.edu
- Angelica Viola MariniUniversità degli Studi Roma TreEmail verificata su uniroma3.it
- Mengmeng LiFull Professor, Nanjing University of Science and TechnologyEmail verificata su njust.edu.cn
- Luca StefaniniDepartment of Industrial, Electronic and Mechanical Engineering of Roma Tre UniversityEmail verificata su uniroma3.it
- Antonino TobiaUniroma3Email verificata su uniroma3.it
- Silvio HrabarProfessor of Electrical Engineering, University of ZagrebEmail verificata su fer.unizg.hr
- Francesco ScattoneMicrowave Vision Group (MVG)Email verificata su mvg-world.com
- Jason SoricRaytheon Technologies, UT AustinEmail verificata su raytheon.com
- Ekmel OzbayProfessor, Bilkent University, Ankara, TURKEYEmail verificata su bilkent.edu.tr
- Francesco AsdrubaliProfessore ordinario di Fisica Tecnica Ambientale, Università per Stranieri di PerugiaEmail verificata su unistrapg.it
- Alessandro SalandrinoAssociate Professor, EECS Department, University of KansasEmail verificata su ku.edu
- Yakir HadadSchool of EE, Tel-Aviv UniversityEmail verificata su eng.tau.ac.il
- Mário SilveirinhaProfessor of Electrical Engineering, University of Lisbon, PortugalEmail verificata su tecnico.ulisboa.pt
- Viktar AsadchyAssistant Professor at Aalto UniversityEmail verificata su aalto.fi
- Filipa R. PrudêncioProfessor ISCTE-IUL, Researcher - Instituto de TelecomunicaçõesEmail verificata su lx.it.pt