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Coautori
- Filiberto BilottiROMA TRE UniversityEmail verificata su uniroma3.it
- Alessandro ToscanoUniversità "Roma Tre, Dipartimento di Ingegneria Industriale, Elettronica e MeccanicaEmail verificata su uniroma3.it
- Mirko Barbuto"Niccolò Cusano" UniversityEmail verificata su unicusano.it
- Stefano VellucciNiccolò Cusano UniversityEmail verificata su unicusano.it
- Andrea AluCUNY Advanced Science Research CenterEmail verificata su gc.cuny.edu
- Jason SoricRaytheon Technologies, UT AustinEmail verificata su raytheon.com
- zahra hamzavi-zarghanishiraz universityEmail verificata su shirazu.ac.ir
- Giacomo OliveriUniversity of TrentoEmail verificata su unitn.it
- Andrea MassaFull Professor, ELEDIA@UniTN, Università di TrentoEmail verificata su unitn.it
- Romain FleuryProfessor of Electrical Engineering, EPFLEmail verificata su epfl.ch
- Silvio HrabarProfessor of Electrical Engineering, University of ZagrebEmail verificata su fer.unizg.hr
- Alexander B. YakovlevProfessor of Electrical Engineering, University of MississippiEmail verificata su olemiss.edu
- Douglas WernerProfessor of Electrical Engineering, The Pennsylvania State UniversityEmail verificata su psu.edu
- Hao Xinthe University of ArizonaEmail verificata su email.arizona.edu
- Hossein Mehrpour BernetyPostdoctoral Scholar at Stanford UniversityEmail verificata su stanford.edu
- Martin FruhnertKarlsruhe Institute of TechnologyEmail verificata su kit.edu
- Carsten RockstuhlProf. of Theoretical Solid State Physics, Karlsruhe Institute of TechnologyEmail verificata su kit.edu
- Ivan Fernandez-CorbatonResearcher, Karlsruhe Institute of TechnologyEmail verificata su kit.edu
- Francesco AsdrubaliProfessore ordinario di Fisica Tecnica Ambientale, Università per Stranieri di PerugiaEmail verificata su unistrapg.it
- Christos ArgyropoulosProfessor, EE Department, The Pennsylvania State UniversityEmail verificata su psu.edu