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Coautori
- Luca CallegaroINRIM - Istituto Nazionale di Ricerca MetrologicaEmail verificata su inrim.it
- Massimo OrtolanoPolitecnico di TorinoEmail verificata su polito.it
- Luca BoarinoIstituto Nazionale di Ricerca MetrologicaEmail verificata su inrim.it
- Gianluca MilanoINRiM, Politecnico di TorinoEmail verificata su inrim.it
- Amaia ZurutuzaScientific Director, GrapheneaEmail verificata su graphenea.com
- Carlo LambertiUniversity of TurinEmail verificata su unito.it
- Alba CentenoGraphenea S.A.Email verificata su graphenea.com
- Albert Redo-SanchezUniversidad de ZaragozaEmail verificata su unizar.es
- carlo ricciardiPolitecnico di TorinoEmail verificata su polito.it
- pasquale arpaiaprofessore ordinario di misure, Università di Napoli Federico II, e associato CERNEmail verificata su unina.it
- Martina MarzanoResearcher, Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRiM), Torino, ItalyEmail verificata su inrim.it
- Antonio EspositoPhD in Metrologia, Università degli Studi di Napoli Federico IIEmail verificata su unina.it
- Olga KazakovaNPLEmail verificata su npl.co.uk
- Bruno TrincheraResearcher, INRiMEmail verificata su inrim.it
- Christos MeliosUniversity of CyprusEmail verificata su ucy.ac.cy
- Silvia BordigaChemistry Department, Torino UniversityEmail verificata su unito.it
- Ngoc Thanh Mai TranPostdoctoral Researcher, National Institute of Standards and Technology (NIST)Email verificata su nist.gov
- Riccardo RuraliEmail verificata su icmab.es
- Marko SpasenovićIHTM - Institute for Chemistry, Technology and MetallurgyEmail verificata su nanosys.ihtm.bg.ac.rs