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Coautori
- Ron SchrimpfProfessor of Electrical Engineering, Vanderbilt UniversityEmail verificata su vanderbilt.edu
- Robert A ReedVanderbilt UniversityEmail verificata su vanderbilt.edu
- Arthur WitulskiResearch Professor Electrical Engineering, Vanderbilt UniversityEmail verificata su vanderbilt.edu
- Andrew SternbergVanderbilt UniversityEmail verificata su vanderbilt.edu
- Ruben GARCIA ALIACERNEmail verificata su cern.ch
- Helmut PuchnerCypress SemiconductorEmail verificata su cypress.com
- W.H. TrzaskaUniversity of JyväskyläEmail verificata su jyu.fi
- HajdasPaul Scherrer InstitutEmail verificata su psi.ch
- Brian SierawskiResearch Associate Professor, Vanderbilt UniversityEmail verificata su vanderbilt.edu
- Michael AllesVanderbilt UniversityEmail verificata su vanderbilt.edu
- Robert A. WellerVanderbilt UniversityEmail verificata su vanderbilt.edu
- Ashok RamanPrincipal Engineer, CFD Research CorporationEmail verificata su cfdrc.com
- Timo SajavaaraDepartment of Physics, University of Jyväskylä, FinlandEmail verificata su jyu.fi
- Marek TurowskiAlphacore Inc., USAEmail verificata su ieee.org
- Charalambos Andreouams OSRAMEmail verificata su ucy.ac.cy
- Julius GeorgiouUniversity of CyprusEmail verificata su ucy.ac.cy
- ALESSANDRO PACCAGNELLADipartimento di Ingegneria dell'Informazione, Università di PadovaEmail verificata su dei.unipd.it
- Valentino LiberaliProfessor of Electronics, Università degli Studi di MilanoEmail verificata su unimi.it
- Patrick GirardLIRMMEmail verificata su lirmm.fr
- Arnaud VirazelLIRMM - Univ. Montpellier / CNRSEmail verificata su lirmm.fr