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Coautori
- pasquale arpaiaprofessore ordinario di misure, Università di Napoli Federico II, e associato CERNEmail verificata su unina.it
- Leopoldo AngrisaniFull Professor of Electrical and Electronic Measurements - University of Naples Federico IIEmail verificata su unina.it
- Francesco DonnarummaResearcher, Institute of Cognitive Sciences and Technologies (ISTC) - National Research CouncilEmail verificata su istc.cnr.it
- Luca De VitoDipartimento di Ingegneria, Università degli Studi del SannioEmail verificata su unisannio.it
- Massimo OrtolanoPolitecnico di TorinoEmail verificata su polito.it
- Alessandro CultreraIstituto Nazionale di Ricerca Metrologica, Torino, ItaliaEmail verificata su inrim.it
- Luca CallegaroINRIM - Istituto Nazionale di Ricerca MetrologicaEmail verificata su inrim.it
- Renato CuocoloUniversity of Naples "Federico II"Email verificata su unina.it
- Roberto PreveteAssistant Professor of Computer Science, DIETI, University of Naples Federico IIEmail verificata su unina.it
- M. ChadliFull Professor - University Paris-Saclay, IBISC, University of Evry Val d'EssonneEmail verificata su univ-evry.fr
- Marco PezzettiCERN TE-CRGEmail verificata su cern.ch
- Federico GargiuloUniverisity of Naples Federico IIEmail verificata su unina.it
- Giovanni ImprotaRTD B (SSD ING-INF/06) - Dip. di Sanità Pubblica - Università degli Studi di Napoli "Federico II"Email verificata su unina.it
- Mirco FrosoloneSanità Pubblica e Medicina Preventiva, Università degli studi Federico IIdi NapoliEmail verificata su unina.it
- Carlo BaccigalupiProfessor of Physics, SISSAEmail verificata su sissa.it
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Antonio Esposito
PhD in Metrologia, Università degli Studi di Napoli Federico II
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