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Coautori
- Massimo OrtolanoPolitecnico di TorinoEmail verificata su polito.it
- Martina MarzanoResearcher, Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRiM), Torino, ItalyEmail verificata su inrim.it
- Alessandro CultreraIstituto Nazionale di Ricerca Metrologica, Torino, ItaliaEmail verificata su inrim.it
- Danilo SerazioEmail verificata su inrim.it
- Bruno TrincheraResearcher, INRiMEmail verificata su inrim.it
- Cristina Cassiagotecnologo, Istituto Nazionale di Ricerca MetrologicaEmail verificata su inrim.it
- Frédéric OverneyMETASEmail verificata su metas.ch
- Ngoc Thanh Mai TranPostdoctoral Researcher, National Institute of Standards and Technology (NIST)Email verificata su nist.gov
- Faranak PourdaneshResearch Fellow, University of Warwick, WMG, United KingdomEmail verificata su warwick.ac.uk
- Klaus PierzEmail verificata su ptb.de
- gianluca galzeranoIstituto di Fotonica e Nanotecnologie - Consiglio Nazionale delle RicercheEmail verificata su polimi.it
- Paolo VavassoriIkerbasque Research Professor, Ikerbasque Science Foundation and CIC nanoGUNEEmail verificata su nanogune.eu
- Hanbyul JinProcess Development Engineer, IntelEmail verificata su intel.com
- Albert RigosiNational Institute of Standards and TechnologyEmail verificata su nist.gov
- Dinesh Kumar PatelPhysikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig, GermanyEmail verificata su ptb.de
- Emanuele EnricoINRiM - Istituto Nazionale di Ricerca MetrologicaEmail verificata su inrim.it
- Flavio GallianaINRIMEmail verificata su inrim.it
- Giovanni ZangariProfessor of Materials Science, University of VirginiaEmail verificata su virginia.edu
- pietro cavallottiProfessore di scienza dei metalli Politecnico di MilanoEmail verificata su polimi.it
- Jan KuceraCMI, CTUEmail verificata su volny.cz